目前市场上闪存芯片的一般筛选方法及利弊
发布日期: 2021-08-16     来源: OFweek电子工程网    


 

近两年,掀起了“新基建”的又一轮热潮,5G、人工智能、工业互联网、大数据中心等为代表的新技术备受瞩目,新基建将带动数据中心规模的增长,从而带动整个数字产业的发展。

 

随着国内存储市场的需求日趋增长,存在的问题也越来越凸显。

 

闪存芯片存在着代码丢失的可能性,芯片本身也有寿命限制。一旦有代码丢失或是芯片寿命过短情况,电子产品将出现系统无法启动、关键功能不能开启等故障,给客户带来损失。

 

因此,闪存芯片产品的可靠性和质量好坏将是客户重点考核和关注的指标。

 

我国目前市场上现有的闪存筛选方法有以下几种:

 

1、搭配Flash测试架进行测试

 

由于主控自身有较强的纠错能力,其测试过程中会不断纠正NAND的错误,暂时掩盖Flash的质量缺陷,导致短时间测试无法暴露SSD中具有潜在风险的坏块。

 

2、成品测试寿命需要反复擦写直至损坏

 

这样的测试方法,虽然能有效测试Flash使用寿命,但是整个过程耗时极长,需将整个盘不断循环擦写直至损坏,耗时往往需要数月,会消耗大量的人力和时间成本。同时,因传统测试技术具有破坏性,测试完成后,成品将无法使用。

 

3、一般不进行寿命测试,或者为抽样测试

 

目前存储市场需求不断扩大,有些企业对产品都做不到全检,只能抽检甚至不检。随着数据的不断写入,闪存芯片使用寿命越来越短,若不进行寿命预测,将存在极大的数据安全隐患。其次即使是同一批次的产品,闪存芯片寿命也存在差异,抽样检测及样本均无法保证整体Flash的寿命情况。

 

4、将闪存芯片生产成成品后测试

 

如因闪存质量不一导致的不良或兼容性问题进行维修,会大大增加生产成本及出货后的质量风险。

 

因此,在目前市场的需求规模下,如何高效精准的甄别闪存芯片质量成为不同领域存储企业共同面临的挑战。

 

面对市场挑战,置富科技表示将迎难而上,通过自主研发的存储芯片智能测试系统和闪存测试技术,实现闪存可靠性寿命预测,为各领域应用提供可靠的存储质量保障。据悉,置富科技自2006年成立以来一直专注于存储产品的研发和生产,是国内第一家专业的闪存芯片测试设备提供商。通过多年的技术积累,其闪存智能检测技术及设备拥有以下四大优势:一,能对闪存进行颗粒级别的非破坏性测试;二,核心的人工智能算法技术,能高精准的预测闪存寿命;三,根据闪存的质量特性将其划分为不同等级;四,为闪存的产品应用提供直观的数据参考,从而帮助客户更好的应用到不同行业领域。

 

置富科技表示将继续发挥“工匠精神”,加强科技研发投入,用科技武装企业,通过不断自主创新,为各类存储品牌提供定制化的服务,为我国存储事业的发展添砖加瓦。